金融界2024年11月30日消息，國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，成都華微電子科技股份有限公司申請一項(xiàng)名為“一種基于低成本FPGA的芯片DFT測試方法及系統(tǒng)”的專利，公開號(hào)CN 119044741 A，申請日期為2024年8月。 專利摘要顯示，本發(fā)明提供一種基于低成本FPGA的芯片DFT測試方法，涉及集成電路測試技術(shù)領(lǐng)域，其主要步驟為：開機(jī)或切換測試腳本ATP文件；上位機(jī)對(duì)FPGA板卡內(nèi)部狀態(tài)機(jī)寄存器復(fù)位；上位機(jī)對(duì)測試腳本ATP文件解析，F(xiàn)PGA板卡接收Pattern并在本地存儲(chǔ)器中展開；FPGA板卡根據(jù)Pattern對(duì)被測芯片設(shè)備進(jìn)行測試，采集被測芯片設(shè)備的輸出信號(hào)；FPGA板卡本地存儲(chǔ)器中記錄的采集條目傳給上位機(jī)，上位機(jī)收到采集條目并寫入輸出文件；結(jié)束DFT測試。本發(fā)明還提供了一種基于低成本FPGA的芯片DFT測試系統(tǒng)。本發(fā)明把測試模板文件的調(diào)試由產(chǎn)線機(jī)臺(tái)設(shè)備轉(zhuǎn)為低成本FPGA板卡，從而縮短了芯片研制到批量之間的轉(zhuǎn)產(chǎn)時(shí)間。 本文源自金融界 |
