金融界2024年10月28日消息，國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，深圳市鑫方卡科技有限公司申請一項名為“一種RFID標簽的性能測試方法及系統(tǒng)”的專利，公開號CN 118818191 A，申請日期為2024年7月。 專利摘要顯示，本發(fā)明涉及RFID標簽性能測試領(lǐng)域，尤其涉及一種RFID標簽的性能測試方法及系統(tǒng)，該方法包括以下步驟。獲取RFID標簽多維度信號；對RFID標簽多維度信號進行靜態(tài)信號性能評估，生成靜態(tài)性能評估數(shù)據(jù)對待測試RFID標簽進行多磁場強度環(huán)境測試，獲取磁場環(huán)境下標簽信號；對磁場環(huán)境下標簽信號進行誤讀率計算，以構(gòu)建誤讀率變化曲線；基于誤讀率變化曲線對磁場環(huán)境下標簽信號進行磁場兼容性能分析，生成磁場兼容性能參數(shù)；基于預設(shè)的動態(tài)環(huán)境場景對待測試RFID標簽進行多路徑移動測試模擬，獲取實時追蹤標簽信號；基于實時追蹤標簽信號得到信號識別最大讀寫范圍及多路徑信號衰減值。本發(fā)明提高了RFID標簽性能測試的效率及準確性。 本文源自金融界 |
